簡要描述:按鍵壽命試驗(yàn)機(jī),操作耐久試驗(yàn)機(jī),筆記本壽命試驗(yàn)機(jī),壽命試驗(yàn)機(jī),筆記本按鍵耐久試驗(yàn)機(jī),鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)
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Notebook 測試規(guī)格 :
磁碟片插入、退出試驗(yàn)。
光碟機(jī)插入、退出試驗(yàn)。
PCMCIA 插入、退出試驗(yàn)。
電池插入、退出試驗(yàn)。
各種接頭插入、退出試驗(yàn)。 PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等
桌面放落試驗(yàn) 。
手機(jī)測試規(guī)格 :
天線上、下抽取試驗(yàn)。
天線彎曲試驗(yàn)。
電池插入、拔出試驗(yàn)。
連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。
ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。
上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。
短距離落下壽命試驗(yàn)。
SIM 卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。
PDA 測試規(guī)格 :
CF 卡插拔耐久試驗(yàn)。
Battery 蓋插、拔耐久試驗(yàn)。
DC 插頭耐久試驗(yàn)。
連接器插、拔耐久試驗(yàn)。
筆插拔耐久試驗(yàn)。
觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?yàn)。
ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
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